Electron Microscope & Bruker

elektronmikroskop bruker svært energiske elektron bjelker for å produsere en elektronisk forstørret bilde for ekstremt detaljert observasjon . De har mye høyere forstørrelsesgrad enn et vanlig lysmikroskop , forstørrende opptil to millioner ganger. De brukes mye av forskere over hele verden i mange bransjer , og er avgjørende for mange løpende vitenskapelige utviklingen og funn . Bakgrunn og Bruker

elektronmikroskop kan foredle både biologiske og uorganiske materialer og blir ofte brukt til å undersøke celler , mikroorganismer, metaller , krystaller og biopsiprøver . Imidlertid må prøvene ses i et vakuum , og er vanligvis ultra - tynn og farget med fargestoffer for bedre visning . Denne typen mikroskop kan avsløre et bredt utvalg av informasjon om et eksemplar inkludert morfologi , krystallografisk informasjon , kompositoriske informasjon og topografi . Det er mulig å studere de små detaljene i en celle . Elektronmikroskop er verdifulle verktøy for medisinske og biologiske felter , samt for materialforskning . Nesten ethvert vitenskapelig felt kan utnytte elektronmikroskop . De er mest brukt i biologi, medisin , kjemi, og etterforskning .
Transmission Electron Microscope

overføring elektronmikroskop( TEM ) , den opprinnelige form av elektronmikroskop , benytter en høy spenning strålen av elektroner å skape et bilde av en prøve . Elektronene som slippes ut av et elektron pistol er akselerert , fokusert og overført gjennom en delvis gjennomsiktige prøven . Strålen deretter kommer ut av prøven og bærer informasjon til objektiv der forstørrelsen oppstår . Fotografisk opptak av bildet kan også oppstå ved å utsette filmen direkte til bjelken. TEMS kan gi informasjon om morfologi inkludert størrelse , form og anordning av partikler. De kan også relé krystallografisk informasjon , slik som arrangementet av atomer og deres grad av orden , samt komposisjons informasjon, inkludert de relative prosenter av de grunnstoffer og forbindelser eller defekter i områder så små som noen få nanometer. En TEM kan bidra til å bestemme formbarhet , styrke, reaktivitet , smeltepunkt , hardhet , konduktivitet og elektriske egenskaper .
Scanning Electron Microscope

motsetning til TEM , der elektronene bære hele bildet, scanning elektronmikroskop (SEM) som gjør et bilde ved hjelp av elektronstrålen som skanner prøven over et rektangulært område . Kjent som raster -skanning , mister elektronstråleenergi som skanner hvert punkt på prøvestykket. Dette tapt energi konverterer til varme , lys og sekundære elektron utslipp . Displayet tilordner disse varierende intensiteter på et bilde avhengig av overflateprosessi stedet for å transmisjonen. Mens en SEM gir et bilde med en litt lavere oppløsning , kan det bulk prøver av mye større prøver , opptil flere centimeter i størrelse , og kan produsere gode representasjoner av 3 - D figurer . I likhet med TEM , kan en SEM videresende informasjon om morfologi , komposisjon og krystallografisk informasjon . Imidlertid , de er begrenset til å se på preparatet i områder av en mikrometer , og grader av pålegg på enkeltkrystallpartiklerer større enn 20 mikrometer. I tillegg kan en SEM også gi informasjon om topografi , eller overflateegenskaper og tekstur , ned til noen få nanometer .